自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢測(ce)探頭(tou)(tou)是(shi)磁(ci)場傳感器的載體(ti)和組合(he)，是(shi)漏(lou)磁(ci)檢測(ce)信號的收集(ji)器。隨(sui)著(zhu)漏(lou)磁(ci)檢測(ce)應(ying)用的不(bu)斷深入和檢測(ce)要求(qiu)的逐步提(ti)高，除了磁(ci)化問題，另(ling)一個核心就(jiu)是(shi)漏(lou)磁(ci)檢測(ce)探頭(tou)(tou)的設計。若探頭(tou)(tou)性(xing)能不(bu)好(hao)或(huo)者不(bu)合(he)適，則會(hui)出(chu)現漏(lou)判(pan)或(huo)者誤判(pan)，嚴重影(ying)響(xiang)漏(lou)磁(ci)檢測(ce)的可靠性(xing)。
另(ling)一方面，沒有(you)(you)一種探(tan)頭(tou)是(shi)萬(wan)能的。由于(yu)自然(ran)(ran)缺陷的形態千(qian)變(bian)萬(wan)化(hua)，檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)必然(ran)(ran)存(cun)在(zai)局限(xian)性，漏判(pan)(pan)或誤(wu)判(pan)(pan)的情況在(zai)檢(jian)測(ce)實踐中時有(you)(you)發生。下(xia)面對檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)的內部(bu)結構和檢(jian)測(ce)特(te)性進行分析(xi)。
一、漏磁檢測探頭的結構(gou)形(xing)式
目前(qian)，最具代表(biao)性的(de)不銹(xiu)鋼管漏(lou)磁(ci)(ci)檢測傳感器(qi)有(you)兩種：霍爾元件和感應線(xian)圈，尤(you)其是集(ji)成霍爾元件和光(guang)刻平面(mian)線(xian)圈。為了獲得(de)較高(gao)的(de)磁(ci)(ci)場測量空間分辨力和相對寬廣的(de)掃查(cha)范圍，檢測探頭芯結(jie)構(gou)有(you)多種形式(shi)。
1. 點(dian)(dian)檢(jian)(jian)測(ce)形式 在檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭中，對某(mou)一(yi)(yi)點(dian)(dian)上或微小區域的漏磁場測(ce)量，并(bing)且每個(ge)測(ce)點(dian)(dian)對應(ying)于一(yi)(yi)個(ge)獨立的信號通道，如圖3-6a所示，以下簡稱為點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭。很明顯(xian)，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭中每個(ge)點(dian)(dian)能夠掃查的檢(jian)(jian)測(ce)范圍很小，但(dan)空(kong)間分辨力高，如單個(ge)霍爾元件的敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢(jian)(jian)用檢(jian)(jian)測(ce)線圈(quan)也可(ke)做(zuo)到φ1mm內。
2. 線檢(jian)測(ce)(ce)形式 在檢(jian)測(ce)(ce)探頭(tou)(tou)中，對一條線上的(de)漏磁(ci)(ci)場進(jin)行綜合測(ce)(ce)量，如圖(tu)3-6b所示，以下簡稱為線檢(jian)探頭(tou)(tou)。例(li)如，用(yong)(yong)感(gan)應線圈(quan)檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，將線圈(quan)做成(cheng)條狀，則(ze)它感(gan)應的(de)是(shi)線圈(quan)掃查路徑對應空間范圍內的(de)漏磁(ci)(ci)通的(de)變化(hua)。用(yong)(yong)霍爾(er)元(yuan)件檢(jian)測(ce)(ce)時(shi)，采用(yong)(yong)線陣排(pai)列，將多個元(yuan)件檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)號用(yong)(yong)加法(fa)器疊加后輸出(chu)單個通道信(xin)號，則(ze)該(gai)信(xin)號反映(ying)的(de)是(shi)霍爾(er)元(yuan)件線陣長度(du)內的(de)磁(ci)(ci)感(gan)應強度(du)的(de)平均值。
在漏(lou)磁檢測中，上(shang)述兩(liang)種形(xing)式(shi)是最(zui)基本的(de)形(xing)式(shi)，由此可以組合成多(duo)種形(xing)式(shi)的(de)探(tan)頭，如圖3-6c所示的(de)平面內的(de)面陣列探(tan)頭，以及(ji)圖3-6d所示的(de)多(duo)個(ge)平面上(shang)的(de)立體陣列探(tan)頭。
二、漏磁檢測探頭(tou)的檢測特性
1. 缺陷類型
不銹鋼管在進行漏磁檢測方(fang)法(fa)和設備(bei)的(de)考核時，常(chang)采用機加(jia)工(gong)或電火花方(fang)式(shi)刻制(zhi)標準(zhun)人工(gong)缺陷，自然缺陷可表(biao)達成它們的(de)組(zu)合形式(shi)。為便于分析和精(jing)確評估(gu)，將標準(zhun)缺陷分成下列三類。
（1）點(dian)狀缺(que)陷(xian) 點(dian)狀缺(que)陷(xian)的面積小，集中(zhong)在(zai)一點(dian)或小圈內，如(ru)標準(zhun)缺(que)陷(xian)里(li)(li)的通(tong)孔，自然缺(que)陷(xian)里(li)(li)的蝕坑、斑點(dian)、氣孔等，它們產生的漏磁場(chang)是一個集中(zhong)的點(dian)團狀場(chang)，分布(bu)范圍(wei)小。
（2）線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian) 線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的寬長比很小(xiao)，形(xing)成一條(tiao)線(xian)，如標準缺(que)陷(xian)(xian)里(li)的矩形(xing)刻槽、自然缺(que)陷(xian)(xian)里(li)的裂紋等，它們產(chan)生(sheng)的漏磁場是(shi)沿線(xian)條(tiao)的帶狀(zhuang)場。
（3）體狀缺陷(xian)(xian) 體狀缺陷(xian)(xian)的長、寬、深尺寸均較大(da)，形成坑或窩，如標準缺陷(xian)(xian)中的大(da)不通孔(kong)、自(zi)然缺陷(xian)(xian)里的片狀腐蝕(shi)等，它們產(chan)生的漏磁場分布范圍廣。
2. 不同結構探(tan)頭的檢測特性
不銹鋼管在漏磁檢測(ce)(ce)中(zhong)，特(te)別要強調空間和(he)方向(xiang)(xiang)的(de)概念(nian)。因為，漏磁場是空間場，且(qie)具有方向(xiang)(xiang)性；漏磁檢測(ce)(ce)信(xin)號(hao)是時間域的(de)，且(qie)沒有相位信(xin)息；不僅(jin)檢測(ce)(ce)探頭具有敏感(gan)方向(xiang)(xiang)，而且(qie)檢測(ce)(ce)探頭的(de)掃查路徑也具有方向(xiang)(xiang)性，不同方向(xiang)(xiang)均會對檢測(ce)(ce)信(xin)號(hao)及(ji)其特(te)征產生影響。
另一方面(mian)，應(ying)(ying)該特別(bie)注(zhu)意缺陷(xian)漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)的(de)(de)(de)(de)表征形式，在這里，漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)強度(du)(du)和漏(lou)磁(ci)場(chang)(chang)梯度(du)(du)存在著(zhu)本(ben)質的(de)(de)(de)(de)不同。霍爾元件和感(gan)(gan)應(ying)(ying)線圈兩種器(qi)件的(de)(de)(de)(de)應(ying)(ying)用也有著(zhu)根本(ben)的(de)(de)(de)(de)區別(bie)。霍爾元件可以測量空間某點上(shang)的(de)(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)(chang)強度(du)(du)，而感(gan)(gan)應(ying)(ying)線圈卻無法實現(xian)；感(gan)(gan)應(ying)(ying)線圈感(gan)(gan)應(ying)(ying)的(de)(de)(de)(de)是(shi)空間一定(ding)范(fan)圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)磁(ci)通量的(de)(de)(de)(de)變化程度(du)(du)，相反，霍爾元件不可以測量磁(ci)通量的(de)(de)(de)(de)變化，它測量的(de)(de)(de)(de)是(shi)一定(ding)空間范(fan)圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)應(ying)(ying)強度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)平均值。
下面將逐一分析(xi)兩種基本探(tan)頭形式對不同類(lei)型(xing)缺(que)陷的檢測信號(hao)特性。
a. 點檢(jian)探頭的信號特性
點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)測(ce)(ce)量的(de)是空(kong)間某點(dian)上的(de)漏(lou)磁感應強度或(huo)磁通量的(de)變化(hua)。點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)對(dui)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)是“針尖(jian)對(dui)麥芒”，空(kong)間相對(dui)位置的(de)微小變化(hua)，均有可(ke)能引起檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅(fu)度的(de)波(bo)動(dong)。點(dian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷的(de)漏(lou)磁場分布是尖(jian)峰狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)(zhuang)的(de)，當點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)正對(dui)峰頂時，信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅(fu)度最大，偏離時信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅(fu)度將急劇下(xia)降(jiang)。因(yin)此，用點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)(zhuang)缺(que)陷時將會(hui)產生不穩定的(de)信(xin)(xin)(xin)號(hao)，導(dao)致誤判或(huo)漏(lou)判。進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設備標定時，也(ye)難將各(ge)通道的(de)靈敏度調整到一致。
點(dian)檢探頭(tou)檢測(ce)線狀(zhuang)缺(que)陷時，很容易掃查到線狀(zhuang)缺(que)陷產生的“山脈”狀(zhuang)漏磁場的某(mou)一個縱斷面，檢測(ce)信號幅度(du)將(jiang)正比于線狀(zhuang)缺(que)陷的深(shen)度(du)。當(dang)線狀(zhuang)缺(que)陷長度(du)大(da)于一定值(zhi)時，設備標定或檢測(ce)信號的一致性和穩定性均較(jiao)好(hao)。
b. 線檢探頭的信號特性
線(xian)檢探頭(tou)(tou)測量的(de)(de)是探頭(tou)(tou)長(chang)度(du)范圍內(nei)的(de)(de)平均磁(ci)感應強(qiang)度(du)或(huo)磁(ci)通量的(de)(de)變化。與(yu)點檢探頭(tou)(tou)相比，線(xian)檢探頭(tou)(tou)的(de)(de)輸出信號特性不但與(yu)缺(que)陷的(de)(de)深(shen)(shen)度(du)有關，而且與(yu)缺(que)陷的(de)(de)長(chang)度(du)有關，最終與(yu)缺(que)陷缺(que)失(shi)的(de)(de)截(jie)面積成比例。這類探頭(tou)(tou)不能直(zhi)接(jie)獲(huo)得與(yu)缺(que)陷深(shen)(shen)度(du)相關的(de)(de)信息，因為長(chang)而淺的(de)(de)缺(que)陷與(yu)短而深(shen)(shen)的(de)(de)缺(que)陷在檢測信號幅度(du)上(shang)有可能是一(yi)樣(yang)的(de)(de)。
線檢探(tan)頭對點(dian)狀缺陷(xian)的(de)檢測(ce)是“滴水不漏”。由于(yu)(yu)線檢探(tan)頭的(de)長(chang)度(du)遠大于(yu)(yu)點(dian)狀缺陷(xian)的(de)長(chang)度(du)，在檢測(ce)路徑上，缺陷(xian)相對于(yu)(yu)探(tan)頭位置變化時，不會影響檢測(ce)信號的(de)幅度(du)，因(yin)而一致性較好。
線檢探(tan)頭檢測線狀缺(que)陷(xian)時，情況較(jiao)為復雜，探(tan)頭與缺(que)陷(xian)的長度比(bi)以及位置關系(xi)均(jun)會影響信號幅值。下面舉例分析。
如圖(tu)3-7a所示，用有效長度為(wei)(wei)25mm的(de)線(xian)檢(jian)探頭檢(jian)測(ce)25mm長的(de)刻槽。當(dang)探頭正對刻槽時，獲得(de)最大的(de)信號(hao)幅(fu)值；當(dang)探頭與(yu)刻槽的(de)位(wei)置錯(cuo)開時，信號(hao)幅(fu)值將隨著探頭與(yu)缺陷交叉重疊程度的(de)減小(xiao)而(er)減弱，此(ci)種(zhong)狀態對檢(jian)測(ce)是(shi)(shi)不(bu)利(li)的(de)，不(bu)論(lun)是(shi)(shi)設備標(biao)定還是(shi)(shi)檢(jian)測(ce)應用均很難(nan)獲得(de)一致(zhi)的(de)檢(jian)測(ce)信號(hao)。圖(tu)3-7中左邊的(de)粗線(xian)段為(wei)(wei)線(xian)檢(jian)探頭，中間的(de)細線(xian)段為(wei)(wei)不(bu)同(tong)位(wei)置的(de)線(xian)狀缺陷，右邊為(wei)(wei)不(bu)同(tong)探頭的(de)檢(jian)測(ce)信號(hao)幅(fu)度。為(wei)(wei)實現線(xian)檢(jian)探頭的(de)一致(zhi)性(xing)檢(jian)測(ce)，有如下兩種(zhong)做(zuo)法：
①. 減小(xiao)線(xian)檢探(tan)頭的(de)有效(xiao)長(chang)度，讓它(ta)小(xiao)于(yu)或等于(yu)線(xian)狀缺(que)陷長(chang)度的(de)一(yi)半，同時將相鄰檢測(ce)探(tan)頭按(an)50％重疊布置，如(ru)圖3-7b所示。可以看(kan)出，不(bu)論(lun)缺(que)陷從(cong)哪個路徑通過探(tan)頭陣列，均可在某一(yi)檢測(ce)單元中(zhong)獲得一(yi)個最大的(de)信(xin)號幅值，而在其(qi)他檢測(ce)單元中(zhong)得到較小(xiao)的(de)信(xin)號幅值。
此時(shi)，由于線狀(zhuang)缺(que)(que)陷長(chang)度遠大于探(tan)頭(tou)長(chang)度，檢(jian)測探(tan)頭(tou)測量的(de)是漏磁場“山脈”中的(de)某(mou)一(yi)(yi)段，如果線狀(zhuang)缺(que)(que)陷深度一(yi)(yi)致，它可(ke)以直接反映出深度信息。將線檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)長(chang)度再不斷縮(suo)小，線檢(jian)探(tan)頭(tou)則變(bian)成點檢(jian)探(tan)頭(tou)。此時(shi)，在采用標(biao)準人工缺(que)(que)陷進(jin)行設(she)備標(biao)定時(shi)，任(ren)何狀(zhuang)態(tai)均(jun)可(ke)得到一(yi)(yi)致的(de)檢(jian)測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢測(ce)方法測(ce)量的(de)(de)是線狀(zhuang)缺陷的(de)(de)平均磁感應強度(du)，因而，它反(fan)映不(bu)了線狀(zhuang)缺陷的(de)(de)深(shen)度(du)信息(xi)。當缺陷的(de)(de)長度(du)逐漸(jian)減小時，則轉變成線檢探頭對(dui)點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)檢測(ce)。
3. 面向對象的檢測探頭設(she)計和選用
在漏(lou)磁檢(jian)測中，應該根據具(ju)體的檢(jian)測要求來(lai)設計和(he)選擇合適的探頭芯結構，下面給出幾種探頭設計和(he)選用原則。
a. 缺(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)度檢測(ce)應該選擇點(dian)檢探(tan)頭 點(dian)檢探(tan)頭反映的(de)(de)是局(ju)部磁感應強度或其(qi)變(bian)化。當(dang)裂紋較(jiao)長(chang)(chang)時，測(ce)點(dian)相(xiang)當(dang)于對無限長(chang)(chang)矩形槽的(de)(de)探(tan)測(ce)，因而，測(ce)點(dian)的(de)(de)信號幅度與缺(que)陷(xian)深(shen)度密切相(xiang)關。但是，當(dang)線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)越(yue)來越(yue)短時，測(ce)量的(de)(de)誤差也(ye)就越(yue)來越(yue)大，特別地，對點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)度探(tan)測(ce)幾(ji)乎不可能。
在鋼管漏(lou)磁檢(jian)(jian)測校樣過(guo)程中，一般均(jun)以通孔(kong)(kong)(kong)作為(wei)標定試樣上(shang)的(de)標準(zhun)缺(que)陷，這樣，大(da)、小孔(kong)(kong)(kong)的(de)深度一致，孔(kong)(kong)(kong)徑尺寸反映出(chu)缺(que)失截面積的(de)線(xian)性變(bian)化(hua)，因而，漏(lou)磁磁通量也將(jiang)發生線(xian)性變(bian)化(hua)。對于不通孔(kong)(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)(kong)的(de)深度和(he)直徑均(jun)為(wei)變(bian)量時(shi)，僅通過(guo)尋找孔(kong)(kong)(kong)深與(yu)(yu)孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)乘積與(yu)(yu)信(xin)號(hao)幅度關系去反演或推算深度是不可(ke)能的(de)。這也是僅采(cai)用(yong)漏(lou)磁方法進(jin)行檢(jian)(jian)測的(de)不足。
b. 缺陷的(de)損(sun)失截面(mian)積(ji)檢測(ce)應(ying)該選擇(ze)線檢探頭 線檢探頭的(de)信號幅度與缺陷損(sun)失的(de)截面(mian)積(ji)成比例，因而有(you)較好(hao)的(de)測(ce)量(liang)精度。在有(you)些檢測(ce)對象(xiang)中(zhong)應(ying)用較好(hao)。
c. 缺(que)陷的(de)(de)長(chang)度檢(jian)(jian)測應該用點檢(jian)(jian)探頭(tou)陣列或(huo)點線(xian)組合式探頭(tou) 點檢(jian)(jian)探頭(tou)敏(min)感(gan)于缺(que)陷的(de)(de)深度，當采用點檢(jian)(jian)探頭(tou)陣列時，缺(que)陷長(chang)度覆蓋的(de)(de)通道數量(liang)可以反映其(qi)長(chang)度信息；另一(yi)方(fang)面，當線(xian)檢(jian)(jian)探頭(tou)大于缺(que)陷的(de)(de)長(chang)度時，感(gan)應的(de)(de)是(shi)深度和長(chang)度的(de)(de)共(gong)同信息，如在其(qi)感(gan)應范圍內并列布置一(yi)個(ge)(ge)或(huo)多個(ge)(ge)點檢(jian)(jian)探頭(tou)感(gan)受深度信息，則裂紋的(de)(de)長(chang)度就可以計(ji)算出來。
從信(xin)號處理角度(du)來看，點線(xian)組(zu)合式探頭(tou)需要(yao)的通(tong)道數量較(jiao)少，可(ke)以(yi)同時(shi)獲得缺陷的深度(du)、長度(du)、缺失截(jie)面積等信(xin)息(xi)，具有(you)較(jiao)強的應用價值(zhi)。
d. 斜向(xiang)裂紋采用點(dian)檢(jian)探頭(tou)陣列檢(jian)測 在(zai)漏(lou)(lou)磁(ci)檢(jian)測中，當缺陷(xian)走(zou)向(xiang)與磁(ci)化場(chang)方向(xiang)不(bu)垂直時，漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)的(de)強度將降(jiang)低，從(cong)而獲得較小的(de)信號(hao)幅(fu)值。因此(ci)，斜向(xiang)缺陷(xian)的(de)檢(jian)測與評估，需要首(shou)先檢(jian)測出裂紋的(de)走(zou)向(xiang)，并且(qie)根(gen)據走(zou)向(xiang)修(xiu)正漏(lou)(lou)磁(ci)場(chang)信號(hao)幅(fu)度，再進行深度判別。
另一方面，當(dang)探頭掃查(cha)路徑垂直于缺陷走向時(shi)，檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號幅(fu)值最大；隨著兩者夾角不斷(duan)減小(xiao)，檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號幅(fu)值逐漸降低，同時(shi)信(xin)(xin)號特性(xing)也將發生明顯(xian)變化(hua)。此(ci)時(shi)，線檢(jian)(jian)探頭的檢(jian)(jian)測信(xin)(xin)號特性(xing)變化(hua)很大，點(dian)檢(jian)(jian)探頭的信(xin)(xin)號幅(fu)度波動卻很小(xiao)。因(yin)此(ci)，可利用點(dian)檢(jian)(jian)探頭陣列中(zhong)各通(tong)道獲得最大幅(fu)值的時(shi)間差異來推算缺陷走向，為后續(xu)的信(xin)(xin)號補償(chang)與缺陷判別奠(dian)定(ding)基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁設(she)備的檢(jian)測(ce)(ce)(ce)能力與探頭芯結構密切相關，從目前(qian)應(ying)用情況來看，漏(lou)磁檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方法(fa)對內外部腐蝕坑、內外部周／軸(zhou)向裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)均有較好的檢(jian)測(ce)(ce)(ce)精(jing)度(du)，同時(shi)，對斜向裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)具有一定的檢(jian)測(ce)(ce)(ce)能力。但是，漏(lou)磁檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方法(fa)對微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)，如(ru)初(chu)期的疲勞裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)、熱處理的應(ying)力裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)、軋制時(shi)的微(wei)機(ji)械(xie)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)和(he)折疊不(bu)太(tai)敏感。究其原因，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)的開口均小于0.05mm，漏(lou)磁場強度(du)較低，因此，有必(bi)要(yao)輔以(yi)渦流、超聲等其他檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方法(fa)。
我國進口漏(lou)磁檢(jian)測(ce)設備采用的(de)(de)基本都是基于(yu)線圈的(de)(de)線檢(jian)探頭，這(zhe)種配置需要(yao)的(de)(de)信號通道(dao)數量相對較少(shao)、探靴的(de)(de)有效覆(fu)蓋(gai)范(fan)圍(wei)大(da)。但是，這(zhe)種方式對缺陷的(de)(de)深度(du)評定需要(yao)一定的(de)(de)輔助條件，而(er)且對斜(xie)向缺陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)靈敏度(du)較低。
在具體(ti)應(ying)(ying)用過(guo)程(cheng)中(zhong)，首先(xian)應(ying)(ying)分析檢(jian)測(ce)要(yao)(yao)求和對象特點(dian)，其次要(yao)(yao)認識探(tan)(tan)頭芯的形(xing)式和結構。總的來講，采(cai)用線檢(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)測(ce)線狀缺陷(xian)的深度(du)信(xin)(xin)息和采(cai)用點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭去評定點(dian)狀缺陷(xian)的長度(du)信(xin)(xin)息均是(shi)不現實的；高精度(du)的檢(jian)測(ce)需要(yao)(yao)以(yi)大量的獨立測(ce)量通道(dao)和信(xin)(xin)號(hao)處理系(xi)統為代價(jia)，因(yin)此，應(ying)(ying)根據檢(jian)測(ce)目標綜合(he)權衡。
