鍛(duan)件(jian)的(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)量(liang)要(yao)求主(zhu)要(yao)表現在鋼(gang)的(de)(de)(de)純凈性(xing)、均(jun)勻性(xing)和(he)致密性(xing)三個方面(mian)。純凈性(xing)、均(jun)勻性(xing)和(he)致密性(xing)的(de)(de)(de)任何不(bu)完善都會影響(xiang)(xiang)質(zhi)(zhi)量(liang)而成為缺陷，缺陷越嚴(yan)重，對質(zhi)(zhi)量(liang)影響(xiang)(xiang)也越大(da)，缺陷如(ru)超過限度則(ze)導致鍛(duan)件(jian)質(zhi)(zhi)量(liang)不(bu)能滿足技術條(tiao)件(jian)的(de)(de)(de)要(yao)求而報廢，故道(dao)道(dao)工序均(jun)應嚴(yan)加控制。下面(mian)我們就和(he)江(jiang)蘇容大(da)一起看(kan)看(kan)鍛(duan)件(jian)成分分析都是哪些方面(mian)？


1. 化(hua)學(xue)成分分析


  一(yi)般化(hua)學成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析主要(yao)為碳、錳(meng)、硅(gui)、硫、磷及合金元(yuan)素的含量。鍛件(jian)從(cong)相當冒(mao)口端(duan)取(qu)樣，重要(yao)鍛件(jian)為了(le)了(le)解偏(pian)析程(cheng)度需(xu)(xu)從(cong)水、冒(mao)口兩(liang)端(duan)取(qu)樣,特殊件(jian)或(huo)缺陷 (及失(shi)效)分(fen)(fen)析，往往還需(xu)(xu)要(yao)分(fen)(fen)析氣體、夾雜物(wu)及微量雜質元(yuan)素的含量，供(gong)質量確認或(huo)研究使用。


2. 力學性能試驗


  常用的(de)(de)力學性能試(shi)驗為硬(ying)度(du)、拉深(shen)、沖擊和彎曲試(shi)驗。從性能數(shu)據(ju)可以發現(xian)材質存在的(de)(de)問題，鋼(gang)中氣(qi)泡、疏松(song)、裂紋(wen)、晶粒度(du)及回(hui)火脆性等往往均可在力學性能試(shi)樣的(de)(de)斷口(kou)上反(fan)映出來。


3. 低倍檢驗


  硫(liu)(liu)印、酸洗(xi)、斷口是(shi)常用的低倍(bei)檢驗(yan)項目。硫(liu)(liu)印可(ke)以(yi)顯(xian)(xian)示(shi)硫(liu)(liu)在截面上的分(fen)布(bu)情況;酸洗(xi)可(ke)以(yi)顯(xian)(xian)示(shi)截面上的成分(fen)偏析(xi)、疏松(song)、縮孔、皮下氣泡(pao)、夾雜(za)物、翻皮、白點(dian)裂(lie)紋等各種宏觀缺陷(xian);斷口檢驗(yan)可(ke)以(yi)發(fa)現硫(liu)(liu)印、酸洗(xi)所(suo)沒能顯(xian)(xian)露出來的缺陷(xian)，是(shi)一種簡便而(er)適用的方法。


4. 金相(xiang)高倍(bei)檢(jian)驗


  這種方法(fa)廣泛用于(yu)微觀檢查，也常(chang)用于(yu)研(yan)究宏觀缺陷的微觀特征。 是用光學(xue)顯(xian)微鏡(LM)在放大50至(zhi)2000倍(bei)下觀察制備好的金相試樣，檢查夾雜物、金屬(shu)顯(xian)微組(zu)織及晶粒(li)度(du)等。 


5. 無損(sun)檢(jian)測(ce)


  通常(chang)用的(de)(de)有磁粉、熒(ying)光、著色、射線、渦(wo)流和(he)超聲波等方法(fa)。正(zheng)確(que)選擇探傷方法(fa)對鍛(duan)件表面及(ji)內部的(de)(de)缺(que)(que)陷進(jin)(jin)行全面細致地檢(jian)查，可以(yi)準確(que)地判斷存在缺(que)(que)陷的(de)(de)，大小(xiao)、數量(liang)及(ji)分(fen)布，在鍛(duan)件的(de)(de)質(zhi)(zhi)量(liang)檢(jian)查中，無損檢(jian)測(ce)現已成為一(yi)種(zhong)極(ji)為重要的(de)(de)方法(fa)之一(yi)。 通過(guo)上述的(de)(de)幾種(zhong)檢(jian)測(ce)方法(fa)，可以(yi)發現鍛(duan)件中的(de)(de)缺(que)(que)陷，了解其(qi)(qi)大小(xiao)、數量(liang)、分(fen)布及(ji)宏觀、微觀形貌。但有時只(zhi)憑這(zhe)些檢(jian)驗結果(guo)還不足以(yi)判定(ding)缺(que)(que)陷的(de)(de)性質(zhi)(zhi)和(he)明確(que)其(qi)(qi)產生原(yuan)因。為了對所發現問題(ti)作(zuo)進(jin)(jin)一(yi)步研究,還需對其(qi)(qi)微觀形貌作(zuo)進(jin)(jin)一(yi)步觀察,對成分(fen)或(huo)第二相夾雜物類型(xing)及(ji)其(qi)(qi)組成和(he)含量(liang)做(zuo)進(jin)(jin)一(yi)步測(ce)定(ding)。這(zhe)就需要比(bi)較現代(dai)的(de)(de)研究手段，如(ru)掃描電子顯微鏡 (SEM)、電子探針（WDS波譜儀及(ji)EDS能(neng)譜儀）和(he)俄歇電子譜儀(AES)等，它們(men)是一(yi)般檢(jian)測(ce)手段的(de)(de)深化和(he)補充。