工業無損探(tan)傷的方法很多，目前國內外最常(chang)用的探(tan)傷方法有(you)五種，即人(ren)們常(chang)稱的五大常(chang)規探(tan)傷方法。本文將首先介紹五大常(chang)規探(tan)傷方法及其特(te)點，并結合(he)汽車維修中的特(te)定條件和需(xu)求，選出更適合(he)于汽車維修的探(tan)傷方法。
五大常規(gui)方(fang)法(fa)是指(zhi)射線探傷(shang)(shang)法(fa)RT、超聲波探傷(shang)(shang)法(fa)UT、磁粉(fen)探傷(shang)(shang)法(fa)MT、渦流探傷(shang)(shang)法(fa)ET和(he)滲透探傷(shang)(shang)法(fa)PT。
1. 射線探傷(shang)方法(fa)
射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線的(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性和直線性來(lai)(lai)(lai)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。這些(xie)(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)線雖然(ran)不會像可(ke)見光那樣憑肉眼就(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直接察(cha)知，但它可(ke)使照相(xiang)(xiang)底片(pian)(pian)感(gan)光，也可(ke)用(yong)(yong)特殊(shu)的(de)(de)(de)(de)接收器(qi)(qi)來(lai)(lai)(lai)接收。常用(yong)(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)線有x光和同位素發出(chu)的(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)線，分別稱(cheng)為x光探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。當(dang)這些(xie)(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)線穿(chuan)過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)時，該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)密度越大(da)，射(she)(she)(she)(she)線強度減(jian)弱(ruo)得越多，即射(she)(she)(she)(she)線能(neng)穿(chuan)透(tou)過(guo)該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)越小(xiao)。此時，若(ruo)用(yong)(yong)照相(xiang)(xiang)底片(pian)(pian)接收，則底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)感(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)小(xiao)；若(ruo)用(yong)(yong)儀器(qi)(qi)來(lai)(lai)(lai)接收，獲得的(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)(jiu)(jiu)弱(ruo)。因(yin)此，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線來(lai)(lai)(lai)照射(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件(jian)時，若(ruo)其(qi)內部有氣孔、夾(jia)渣等(deng)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)線穿(chuan)過(guo)有缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路(lu)徑比沒(mei)有缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路(lu)徑所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密度要小(xiao)得多，其(qi)強度就(jiu)(jiu)(jiu)減(jian)弱(ruo)得少些(xie)(xie)(xie)，即透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)底片(pian)(pian)接收，則感(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)以從底片(pian)(pian)上(shang)反映(ying)出(chu)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)線方向(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投影；若(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它接收器(qi)(qi)也同樣可(ke)以用(yong)(yong)儀表來(lai)(lai)(lai)反映(ying)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)(she)線方向(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投影和射(she)(she)(she)(she)線的(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量。由此可(ke)見，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是不易(yi)發現裂紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對裂紋(wen)(wen)是不敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾(jia)渣、未焊透(tou)等(deng)體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)(she)(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適(shi)宜用(yong)(yong)于體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，而不適(shi)宜面(mian)積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。
2. 超聲波探傷方法
人們的(de)(de)耳朵能直接(jie)(jie)接(jie)(jie)收到的(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)頻率(lv)(lv)范圍通常(chang)(chang)是20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率(lv)(lv)低于(yu)20 Hz的(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)稱(cheng)為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業(ye)上常(chang)(chang)用數兆(zhao)赫(he)茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來(lai)探(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻率(lv)(lv)高(gao)，則傳播(bo)的(de)(de)直線性(xing)強，又易(yi)于(yu)在固體中(zhong)傳播(bo)，并且遇到兩種不同介(jie)(jie)質(zhi)形成(cheng)的(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時易(yi)于(yu)反射(she)(she)，這樣(yang)就(jiu)可(ke)以用它(ta)來(lai)探(tan)傷。通常(chang)(chang)用超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)(tou)與待探(tan)工件表(biao)面(mian)(mian)良好的(de)(de)接(jie)(jie)觸，探(tan)頭(tou)(tou)則可(ke)有效(xiao)地向工件發射(she)(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并能接(jie)(jie)收（缺(que)陷）界(jie)面(mian)(mian)反射(she)(she)來(lai)的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同時轉換成(cheng)電(dian)信號(hao)，再傳輸給儀器進(jin)行處理。根(gen)據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)(jie)質(zhi)中(zhong)傳播(bo)的(de)(de)速度（常(chang)(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)時間，就(jiu)可(ke)知道缺(que)陷的(de)(de)位(wei)置。當缺(que)陷越(yue)大(da)(da)，反射(she)(she)面(mian)(mian)則越(yue)大(da)(da)，其反射(she)(she)的(de)(de)能量也就(jiu)越(yue)大(da)(da)，故可(ke)根(gen)據反射(she)(she)能量的(de)(de)大(da)(da)小(xiao)來(lai)查知各缺(que)陷（當量）的(de)(de)大(da)(da)小(xiao)。常(chang)(chang)用的(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)波(bo)(bo)等，前(qian)二者適用于(yu)探(tan)測內部缺(que)陷，后者適宜(yi)于(yu)探(tan)測表(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷，但對表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)條件要(yao)求高(gao)。
3. 磁(ci)粉探(tan)傷(shang)方法(fa)
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原(yuan)理(li)基礎上(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)傷(shang)方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)線穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其制品時(shi)(shi)，在其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)(bu)連續(xu)處將產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時(shi)(shi)撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或(huo)澆(jiao)上(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產(chan)生用(yong)(yong)肉(rou)眼能(neng)(neng)直(zhi)接觀(guan)察(cha)的(de)明顯(xian)(xian)(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此，可借助(zhu)于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)(xian)(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其制品的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)法(fa)可探(tan)測露出表(biao)(biao)面(mian)，用(yong)(yong)肉(rou)眼或(huo)借助(zhu)于(yu)放(fang)大鏡也不(bu)(bu)能(neng)(neng)直(zhi)接觀(guan)察(cha)到的(de)微小缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，也可探(tan)測未露出表(biao)(biao)面(mian)，而是埋藏在表(biao)(biao)面(mian)下(xia)幾毫米的(de)近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)。用(yong)(yong)這種方法(fa)雖然也能(neng)(neng)探(tan)查氣孔、夾雜、未焊透(tou)等(deng)體(ti)積型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，但對面(mian)積型(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)檢(jian)查因(yin)淬火、軋制、鍛造、鑄(zhu)造、焊接、電鍍、磨削、疲勞(lao)等(deng)引起的(de)裂紋(wen)。 磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)傷(shang)中對缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)顯(xian)(xian)(xian)示方法(fa)有(you)(you)多種，有(you)(you)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示的(de)，也有(you)(you)不(bu)(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示的(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示的(de)稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)，因(yin)它(ta)顯(xian)(xian)(xian)示直(zhi)觀(guan)、操作簡單、人們樂于(yu)使用(yong)(yong)，故它(ta)是最(zui)常(chang)用(yong)(yong)的(de)方法(fa)之一。不(bu)(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示的(de)，習(xi)慣(guan)上(shang)稱為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)，它(ta)常(chang)借助(zhu)于(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管(guan)、霍(huo)爾元件等(deng)來反映缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)更衛生，但不(bu)(bu)如前者直(zhi)觀(guan)。由于(yu)目前磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)傷(shang)主(zhu)要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)(xian)(xian)示缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，因(yin)此，人們有(you)(you)時(shi)(shi)把(ba)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)傷(shang)，其設備(bei)稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)傷(shang)設備(bei)。
4. 渦流探(tan)傷(shang)方法
渦(wo)流探傷(shang)是(shi)由(you)交流電(dian)流產生的(de)(de)(de)交變(bian)磁場(chang)(chang)作用于待探傷(shang)的(de)(de)(de)導電(dian)材(cai)料(liao)(liao)，感應出電(dian)渦(wo)流。如果(guo)材(cai)料(liao)(liao)中(zhong)有缺陷，它將干擾(rao)所產生的(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)流，即形成干擾(rao)信(xin)號(hao)。用渦(wo)流探傷(shang)儀(yi)檢(jian)測出其(qi)干擾(rao)信(xin)號(hao)，就可(ke)知道缺陷的(de)(de)(de)狀(zhuang)況。影響(xiang)渦(wo)流的(de)(de)(de)因素很(hen)多(duo)，即是(shi)說渦(wo)流中(zhong)載(zai)有豐富(fu)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，這些(xie)(xie)信(xin)號(hao)與(yu)材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)很(hen)多(duo)因素有關，如何將其(qi)中(zhong)有用的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)從諸(zhu)多(duo)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)中(zhong)一(yi)一(yi)分離出來(lai)，是(shi)目前渦(wo)流研究工作者的(de)(de)(de)難題，多(duo)年來(lai)已經取得了(le)一(yi)些(xie)(xie)進(jin)展，在一(yi)定條(tiao)件下可(ke)解(jie)決一(yi)些(xie)(xie)問題，但還遠不能(neng)滿足現場(chang)(chang)的(de)(de)(de)要求，有待于大力發(fa)展。
渦流探傷(shang)的(de)(de)顯著特點是(shi)(shi)對(dui)導電材(cai)料就能起作用，而(er)不一定是(shi)(shi)鐵磁材(cai)料，但(dan)對(dui)鐵磁材(cai)料的(de)(de)效果(guo)較差。其次，待探工(gong)件表面的(de)(de)光潔度、平(ping)整度、邊介等(deng)對(dui)渦流探傷(shang)都有較大影響，因此常將渦流探傷(shang)用于形(xing)狀較規則、表面較光潔的(de)(de)銅(tong)管等(deng)非鐵磁性工(gong)件探傷(shang)。
5. 滲透(tou)探傷方(fang)法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探傷(shang)(shang)是利用(yong)毛(mao)細現(xian)(xian)象來進行(xing)探傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。對于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)光滑(hua)而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)，用(yong)一種帶色(se)(se)(se)（常為紅(hong)色(se)(se)(se)）或帶有熒(ying)(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液體，涂覆于(yu)(yu)待(dai)探零部(bu)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)。若表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)有肉眼不能(neng)直(zhi)接察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)，由于(yu)(yu)該(gai)液體的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強，它將沿著(zhu)(zhu)裂(lie)紋(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到(dao)其根部(bu)。然后將表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液洗(xi)去(qu)，再涂上(shang)對比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯示(shi)(shi)液（常為白(bai)色(se)(se)(se)）。放置片刻后，由于(yu)(yu)裂(lie)紋(wen)很(hen)窄，毛(mao)細現(xian)(xian)象作(zuo)用(yong)顯著(zhu)(zhu)，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到(dao)裂(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液將上(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)并擴散，在(zai)白(bai)色(se)(se)(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯出(chu)(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)線，從(cong)而(er)顯示(shi)(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀，因此，常稱為著(zhu)(zhu)色(se)(se)(se)探傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液采用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒(ying)(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液體，由毛(mao)細現(xian)(xian)象上(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液體，則會在(zai)紫外燈照射下(xia)發出(chu)(chu)熒(ying)(ying)光，從(cong)而(er)更能(neng)顯示(shi)(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀，故常常又(you)將此時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探傷(shang)(shang)直(zhi)接稱為熒(ying)(ying)光探傷(shang)(shang)。此探傷(shang)(shang)方法也可(ke)用(yong)于(yu)(yu)金屬(shu)(shu)和非金屬(shu)(shu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)探傷(shang)(shang)。其使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)液劑有較(jiao)大氣味，常有一定毒性。
除以(yi)上五大常規方法外，近年來又有(you)了(le)紅外、聲發(fa)射等一些(xie)新的探傷(shang)方法。
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