無(wu)損檢測(ce)就是利用聲(sheng)、光、磁(ci)和電等特(te)性(xing)，在不損害或不影(ying)響(xiang)被(bei)檢對象使用性(xing)能(neng)的前提下，檢測(ce)被(bei)檢對象中是否存在缺陷(xian)或不均勻(yun)性(xing)，給出缺陷(xian)的大小、位置、性(xing)質(zhi)和數量等信息(xi)，進而(er)判定(ding)被(bei)檢對象所(suo)處技(ji)術狀態(tai)(如合(he)格(ge)與否、剩余壽命等)的所(suo)有技(ji)術手段的總稱。常用的無(wu)損檢測(ce)方法：超聲(sheng)檢測(ce)(UT)、磁(ci)粉檢測(ce)(MT)、液體滲透檢測(ce)(PT)及X射線檢測(ce)(RT)。       


  超(chao)聲波檢測已(yi)經單(dan)(dan)獨詳細的介紹(shao)過(guo)了，下(xia)面就簡單(dan)(dan)地對剩下(xia)的三個(ge)進行介紹(shao)和對比。       


 首先(xian)來了解一下，磁(ci)(ci)粉檢(jian)測的原(yuan)理。鐵磁(ci)(ci)性材料和工件被磁(ci)(ci)化后，由(you)于不(bu)(bu)連續性的存在(zai)，工件表面和近表面的磁(ci)(ci)力線發生局部畸變，而產生漏(lou)磁(ci)(ci)場，吸(xi)附施加在(zai)工件表面的磁(ci)(ci)粉，形成在(zai)合(he)適光照下目視可見的磁(ci)(ci)痕，從而顯(xian)示出(chu)不(bu)(bu)連續性的位(wei)置、形狀和大(da)小。       


 磁(ci)粉(fen)檢(jian)測的(de)適用性(xing)和局限性(xing)有：


 1. 磁粉探傷適用于檢(jian)測鐵磁性(xing)材料(liao)表面和近表面尺(chi)寸很小(xiao)、間隙極窄目(mu)視難(nan)以看出的不連續性(xing)。       


 2. 磁粉檢測(ce)可對多種(zhong)情(qing)況下的(de)零部件(jian)檢測(ce)，還(huan)可多種(zhong)型件(jian)進行檢測(ce)。       


 3. 可發(fa)現裂紋、夾(jia)雜(za)、發(fa)紋、白點、折疊、冷(leng)隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁(ci)粉檢測不(bu)能檢測奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼材(cai)料和用奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼焊(han)條焊(han)接(jie)的(de)(de)焊(han)縫，也不(bu)能檢測銅鋁鎂鈦等非磁(ci)性材(cai)料。對于(yu)表(biao)面淺劃傷、埋(mai)藏較(jiao)深洞和與工件表(biao)面夾角小于(yu)20°的(de)(de)分層(ceng)和折疊很(hen)難(nan)發(fa)現。


  液(ye)(ye)(ye)體滲(shen)透檢(jian)測的(de)基本(ben)原理，零(ling)件表面(mian)(mian)被施涂含有熒光(guang)染料(liao)或(huo)著色染料(liao)后(hou)，在一段(duan)時間的(de)毛(mao)細管作用下(xia)，滲(shen)透液(ye)(ye)(ye)可以滲(shen)透進表面(mian)(mian)開口缺(que)陷(xian)中(zhong)；經去(qu)除零(ling)件表面(mian)(mian)多余的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)(ye)后(hou)，再在零(ling)件表面(mian)(mian)施涂顯像(xiang)(xiang)劑(ji)，同樣，在毛(mao)細管的(de)作用下(xia)，顯像(xiang)(xiang)劑(ji)將吸(xi)引缺(que)陷(xian)中(zhong)保留的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)(ye)，滲(shen)透液(ye)(ye)(ye)回滲(shen)到顯像(xiang)(xiang)劑(ji)中(zhong)，在一定(ding)的(de)光(guang)源(yuan)下(xia)(紫外(wai)線光(guang)或(huo)白(bai)光(guang))，缺(que)陷(xian)處(chu)的(de)滲(shen)透液(ye)(ye)(ye)痕跡被現實(shi)，(黃綠色熒光(guang)或(huo)鮮艷紅色)，從而(er)探測出缺(que)陷(xian)的(de)形(xing)貌及(ji)分布(bu)狀態。        


 滲透檢測(ce)的優點：1. 可檢(jian)測各(ge)種材料； 2. 具有較高的(de)靈(ling)敏(min)度；3. 顯示直觀、操(cao)作方(fang)便(bian)、檢(jian)測費用低。       


 滲透檢(jian)測(ce)的(de)缺(que)點：1. 不適(shi)于(yu)檢查多(duo)孔性(xing)疏松材(cai)料制成的(de)工(gong)件和表面粗糙的(de)工(gong)件；2. 滲透檢測只能檢出缺陷的(de)表面分布(bu)，難以確定缺陷的(de)實際深度，因而很難對缺陷做(zuo)出定量評價。檢出結果受操作者的(de)影響也較(jiao)大。       


 最后(hou)一種，射線檢測，是(shi)因為(wei) X射線穿過被照射物體(ti)后(hou)會有(you)損耗(hao)，不(bu)同(tong)厚度不(bu)同(tong)物質對它(ta)們(men)的(de)吸收(shou)率(lv)不(bu)同(tong)，而(er)底片(pian)(pian)放在被照射物體(ti)的(de)另(ling)一側，會因為(wei)射線強度不(bu)同(tong)而(er)產生(sheng)相應的(de)圖形,評片(pian)(pian)人員就可(ke)以根據影像(xiang)來(lai)判斷物體(ti)內部(bu)的(de)是(shi)否有(you)缺陷(xian)以及缺陷(xian)的(de)性質。 


 射線(xian)檢測(ce)的(de)(de)(de)適用性(xing)和(he)局限性(xing)：   1. 對檢測(ce)體(ti)積型(xing)的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷比較(jiao)敏感，比較(jiao)容易對缺(que)(que)陷進行定性(xing)。 2. 射線(xian)底片(pian)易于保(bao)留，有(you)追溯(su)性(xing)。3. 直觀顯示缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)形狀和(he)類型(xing)。  4. 缺(que)(que)點(dian)不能定位(wei)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)埋藏(zang)深度(du)，同時(shi)檢測(ce)厚度(du)有(you)限，底片(pian)需(xu)專門送洗，并(bing)且對人身體(ti)有(you)一(yi)定害，成本較(jiao)高。     


  總而言之，超(chao)聲波、X射線(xian)探傷(shang)(shang)適(shi)用于(yu)探傷(shang)(shang)內(nei)部(bu)(bu)缺陷(xian)(xian)；其中超(chao)聲波適(shi)用于(yu)5mm以上，且(qie)形狀規則(ze)的(de)部(bu)(bu)件，X射線(xian)不能定位缺陷(xian)(xian)的(de)埋藏深度，有輻(fu)射。 磁(ci)粉、滲透(tou)探傷(shang)(shang)適(shi)用于(yu)探傷(shang)(shang)部(bu)(bu)件表(biao)(biao)面(mian)缺陷(xian)(xian)；其中磁(ci)粉探傷(shang)(shang)僅(jin)限于(yu)檢(jian)測磁(ci)性材料(liao)，滲透(tou)探傷(shang)(shang)僅(jin)限于(yu)檢(jian)測表(biao)(biao)面(mian)開口缺陷(xian)(xian)。